发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明设在浮动闸电极(9)之下方之绝缘膜包含有:第1绝缘膜(6),其位于浮动闸电极下方之两端部;和第2绝缘膜(8),其被第1绝缘膜包夹而位于浮动闸电极下方之中间部。第1绝缘膜和第2绝缘膜以不同之步骤形成,第1绝缘膜之膜厚大于第2绝缘膜之膜厚。另外,第1绝缘膜之从第1绝缘膜之上面到连接第2绝缘膜之上面的部份系带圆弧状。利用此种构造,当浮动闸电极和矽基板间之绝缘膜的膜厚,在端部之增加大于在部之增加的情况时,即可加大该增加部之自由度,且可以容易控制其增加度。
申请公布号 TW200614519 申请公布日期 2006.05.01
申请号 TW094128898 申请日期 2005.08.24
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 寺内崇
分类号 H01L29/788;H01L21/8234 主分类号 H01L29/788
代理机构 代理人 赖经臣
主权项
地址 日本
您可能感兴趣的专利