发明名称 使用X-射线发射以用于制程监控的系统及方法
摘要 现提供数种通过带电粒子束(例如电子或离子)所引诱的X-射线发射为基础而用于制程监控的系统及方法,其概念在文中有描述。
申请公布号 CN1720445A 申请公布日期 2006.01.11
申请号 CN200380105142.4 申请日期 2003.10.08
申请人 应用材料以色列公司 发明人 德罗尔·舍梅什
分类号 G01N23/225(2006.01);H01L21/66(2006.01) 主分类号 G01N23/225(2006.01)
代理机构 上海隆天新高专利商标代理有限公司 代理人 楼仙英
主权项 1.一种用于制程监控的方法,该方法至少包含下列步骤:接收一由至少两种材料制成的样品;扫描多个目标点,借以引诱来自多个目标点的X-射线发射,而该多个目标点是定位于该样品的一第一区域内;检测发散自该多个目标点的X-射线;以及建立该样品的至少一区域的一图像,其可指出该过程的一状态以响应来自多个目标点的已检测X-射线发射。
地址 以色列瑞哈佛特市