发明名称 |
提高快闪存储器元件中栅极耦合比的制造方法及结构 |
摘要 |
本发明有关一种提高制造一快闪存储器元件中栅极耦合比(gate coupling ratio,GCR)的方法及结构。本方法包含以下步骤:在一提供的半导体底材上依序地形成一栅极氧化层、一第一半导体层及一绝缘层,然后在绝缘层上形成一光阻层并对其图刻。利用一种蚀刻过程来蚀刻绝缘层并随后将光阻层移除。半导体间隙壁随后沉积并作为自行对准(self-aligned)蚀刻光罩。之后,经自行对准蚀刻后,绝缘层被移除并且一绝缘堆叠结构沉积其上。最后,一第二半导体层沉积其上并蚀刻形成控制栅极(control gate)区。 |
申请公布号 |
CN1595640A |
申请公布日期 |
2005.03.16 |
申请号 |
CN03159385.2 |
申请日期 |
2003.09.12 |
申请人 |
联华电子股份有限公司 |
发明人 |
李文芳;徐尉伦;赵崇斌;林育贤 |
分类号 |
H01L21/8234;H01L21/8247;H01L27/105;H01L27/115 |
主分类号 |
H01L21/8234 |
代理机构 |
上海专利商标事务所 |
代理人 |
任永武 |
主权项 |
1.一种制造快闪存储器元件的方法,包括:提供一半导体底材;形成一栅极氧化层于该半导体底材上;形成一第一半导体层于该栅极氧化层上;形成一绝缘层于该第一半导体层上;移除部份该绝缘层以暴露出部份该第一半导体层;形成一半导体间隙壁于该暴露出的第一半导体层上与该绝缘层上;移除部份该半导体间隙壁以暴露出该绝缘层;移除该绝缘层以暴露出该第一半导体层,其中该半导体间隙壁突出于该第一半导体层的表面上;形成一绝缘堆叠结构于该第一半导体层与该半导体间隙壁上;及形成一第二半导体层于该绝缘堆叠结构上。 |
地址 |
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行二路三号 |