发明名称 用于从电子部件衬底去除残留材料的方法及其装置
摘要 本发明提供用于从电子部件去除固体和/或液体残留物的方法和装置,所述电子部件例如为半导体衬底,本发明利用液态或超临界二氧化碳,其在晶片表面上被固化,并且随后被汽化并从系统中排出。在优选实施例中,在从容器中去除CO<SUB>2</SUB>之前,固化和汽化步骤被重复/循环。所述残留物利用汽化的二氧化碳被带走。
申请公布号 CN1508848A 申请公布日期 2004.06.30
申请号 CN200310120631.9 申请日期 2003.12.16
申请人 国际商业机器公司 发明人 约翰·M·科特;凯瑟琳·艾弗斯;肯尼思·J·麦卡洛;韦恩·M·莫罗;罗伯特·J·珀特尔;约翰·P·西蒙斯;威廉·A·赛弗森;查尔斯·J·塔夫特
分类号 H01L21/30;H01L21/302 主分类号 H01L21/30
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1.一种从电子部件衬底去除固体和/或液体残留物的方法,包括以下步骤:提供压力容器;在所述容器中提供包括所要从中去除的残留物的半导体衬底;在一压力和温度条件下在所述容器中提供一材料,使得所述材料为液体或者处于临界压力和温度以上,使得所述材料为超临界流体;降低衬底表面温度,使得接触衬底表面的所述材料在衬底表面上转变成固态;改变所述容器内的温度和/或压力,使得所述容器内的所述材料转变成液态和/或气态;从所述容器中去除所述材料;以及从所述容器中移除所述半导体衬底。
地址 美国纽约州