发明名称 |
一种对同步动态随机存储器自测试的方法及其装置 |
摘要 |
一种对同步动态随机存储器自测试的方法及其装置,在系统正常工作之前对SDRAM进行自测试,其方法为:启动同步动态随机存储器SDRAM自测试,系统切换到自测试模式下;CPU将数据写入自测试模块的第一双端口RAM;仲裁模块从所述第一双端口RAM中读取数据并写入SDRAM;仲裁模块从SDRAM中回读数据并写入自测试模块的第二双端口RAM中;CPU从所述第二双端口RAM中读数据,并对写入和读出的数据进行比较,以判断SDRAM是否工作正常;在自测试工作完成后,系统切换到正常工作模式下,实现业务的恢复。本发明增加了系统的可靠性,并且通过对SDRAM进行自测试可以判断SDRAM是否失效,从而增加系统的可维护性。另外,逻辑实现也比较简单,不额外增加系统的复杂度。 |
申请公布号 |
CN1504884A |
申请公布日期 |
2004.06.16 |
申请号 |
CN02150825.9 |
申请日期 |
2002.11.29 |
申请人 |
华为技术有限公司 |
发明人 |
徐春;石磊 |
分类号 |
G06F11/00 |
主分类号 |
G06F11/00 |
代理机构 |
上海专利商标事务所 |
代理人 |
章蔚强 |
主权项 |
1.一种对同步动态随机存储器自测试的方法,其特征在于,在系统正常工作之前对SDRAM进行自测试,包括下列步骤:A.启动同步动态随机存储器SDRAM自测试,系统切换到自测试模式下;B.CPU将数据写入自测试模块的第一双端口RAM;C.仲裁模块从所述第一双端口RAM中读取数据并写入SDRAM;D.仲裁模块从SDRAM中回读数据并写入自测试模块的第二双端口RAM中;E.CPU从所述第二双端口RAM中读数据,并对写入和读出的数据进行比较,以判断SDRAM是否工作正常;F.在自测试工作完成后,系统切换到正常工作模式下,实现业务的恢复。 |
地址 |
518057广东省深圳市科技园科发路华为用户服务中心大厦 |