发明名称 泛用型测试治具平台
摘要 一种泛用型测试治具平台,包含有基座本体以及固定模组,利用装设于基座本体以及固定模组上之量测装置,来测试印刷电路板之电子元件以及连接器,欲测量不同种类之印刷电路板时,仅需抽换固定模组即可进行功能测试,而大幅提高测试治具的利用率、回收率以及开发的成本。五、(一)、本案代表图为:第3图(二)、本案代表图之元件代表符号简单说明:10 基座本体11 轨道12 量测装置30 印刷电路板31 连接器40 风扇60 第二固定模组61 滑块62 档块63 顶针
申请公布号 TW564942 申请公布日期 2003.12.01
申请号 TW091220327 申请日期 2002.12.13
申请人 英业达股份有限公司 发明人 曹惠国
分类号 G01R1/00 主分类号 G01R1/00
代理机构 代理人 许世正 台北市信义区忠孝东路五段四一○号四楼
主权项 1.一种泛用型测试治具平台,用以测试一包含有复数个电子元件以及复数个连接器之印刷电路板,该泛用型测试治具平台包含有:一基座本体,包含有一个或一个以上的量测装置以及夹持部;及一固定模组,包含有相对应该夹持部之固定部,可藉由该固定部结合于该夹持部,而使得该固定模组以可活动的方式装设于该基座本体,该固定模组可供该印刷电路板放置,并藉由该量测装置测试该印刷电路板之该电子元件以及该连接器;其中该固定模组可自该基座本体完全拆离,而可进行更换的动作,系用以容设不同种类之该印刷电路板。2.如申请专利范围第1项所述之泛用型测试治具平台,其中夹持部为一轨道。3.如申请专利范围第2项所述之泛用型测试治具平台,其中该固定部为一滑块,系藉以滑动于该轨道。4.如申请专利范围第1项所述之泛用型测试治具平台,其中该固定模组包含有复数个抵持件,系用以顶持该印刷电路板,使得该固定模组以及该印刷电路板之间具有一空隙。5.如申请专利范围第4项所述之泛用型测试治具平台,其中该抵持件为顶针。6.如申请专利范围第5项所述之泛用型测试治具平台,其中该顶针之前端具有圆角,系藉以防止损伤该印刷电路板之表面。7.如申请专利范围第1项所述之泛用型测试治具平台,其中该固定模组还包含有一风扇,系提供测试中之印刷电路板进行散热作用。8.如申请专利范围第1项所述之泛用型测试治具平台,其中该固定模组更包含有复数个档块,系藉以防止该印刷电路板测试时脱离该固定模组之范围。9.一种泛用型测试治具平台,用以测试印刷电路板,该印刷电路板包含有复数个电子元件以及复数个连接器,该泛用型测试治具平台包含有:一基座本体,包含有一容置空间以及一个或一个以上之夹持部,该容置空间系用以容设该印刷电路板;及一固定模组,包含有复数个量测装置以及相对应该夹持部之一个或一个以上之固定部,该固定部结合于该夹持部,而使得该固定模组装设于该基座本体,该量测装置系用以测试该印刷电路板之该电子元件以及该连接器;其中该固定模组可自该基座本体完全拆离而更换其他种类之该固定模组,或将该固定模组装设于不同位置之该夹持部,系藉以测试不同种类之该印刷电路板。10.如申请专利范围第9项所述之泛用型测试治具平台,其中该基座本体还包含有复数个量测装置,系用以测试该印刷电路板之电子元件以及连接器。11.如申请专利范围第9项所述之泛用型测试治具平台,其中该基座本体更包含有复数个档块,系藉以防止测试中之该印刷电路板脱离该基座本体的范围。12.如申请专利范围第9项所述之泛用型测试治具平台,其中该夹持部系包含有复数个定位块以及一个或一个以上之柱体,该柱体之两端分别装设于该定位块。13.如申请专利范围第12项所述之泛用型测试治具平台,其中该固定部包含有一穿孔,系供给该柱体穿越。14.如申请专利范围第9项所述之泛用型测试治具平台,其中夹持部为一轨道。15.如申请专利范围第14项所述之泛用型测试治具平台,其中该固定部为一滑块,系藉以滑动于该轨道。16.如申请专利范围第9项所述之泛用型测试治具平台,其中该基座本体更包含有复数个量测装置,系用以测试该印刷电路板。17.如申请专利范围第9项所述之泛用型测试治具平台,其中该基座本体还包含有一风扇,系提供测试中之印刷电路板进行散热作用。18.如申请专利范围第9项所述之泛用型测试治具平台,其中该基座本体更包含有复数个抵持件,系用以顶持该印刷电路板,使得该固定模组以及该印刷电路板之间具有一空隙。19.如申请专利范围第18项所述之泛用型测试治具平台,其中该抵持件为顶针。20.如申请专利范围第19项所述之泛用型测试治具平台,其中该顶针之前端具有圆角,系藉以防止损伤该印刷电路板之表面。图式简单说明:第1图为本创作第一种实施例之立体示意图;第2图为本创作之第一种实施例之第一运动示意图;第3图为本创作第一种实施例之第二运动示意图;第4图为本创作第二种实施例之立体示意图;第5图为本创作第二种实施例之局部示意图;
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