发明名称 |
用浮动校验组提高盘阵列记录系统可靠性的方法及其系统 |
摘要 |
用浮动校验组提高盘阵列记录系统可靠性的方法及其系统,属于盘阵列记录系统可靠性技术领域,其特征为:盘阵列系统的校验组是浮动的,当校验组存在一个存储设备失效时校验组降级运行。某个校验组内失效的存储设备数超过1个时,系统就把和失效存储设备位于同一串列即通道上且所在校验组尚未降级的存储设备和当前失效设备相互换,于是,原来即将由某校验组失效而引起的系统失效就转化为两个校验组的降级运行,直到每个校验组的最后失效存储设备数都达到1个时,若再有存储设备失效,则整个系统才失效。相应地给了系统框图。该法的实质是整体最优,它可充分利用系统中的冗余资源进行动态配置,只有当系统冗余资源全部耗尽,系统才失效。 |
申请公布号 |
CN1444140A |
申请公布日期 |
2003.09.24 |
申请号 |
CN02104070.2 |
申请日期 |
2002.03.08 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
贾惠波;王重阳;蒋昌龙;熊剑平;马骋;何宁 |
分类号 |
G06F11/22 |
主分类号 |
G06F11/22 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1、用浮动校验组提高盘阵列记录系统可靠性的方法,其特征在于它依次含有以下步骤:(1)系统自检;(2)设定通道数N,校验组数M;(3)设每个校验组最终允许失效的存储设备数为1个;(4)进行数据记录;(5)判别是否有失效的存储设备,如有,则判别失效的存储设备的位置(i,j):i为通道序号,j为校验组序号;(6)判别是否有未降级工作的校验组k,如果没有,则记录系统失效,报警;如果有,则执行下一步骤;(7)把第j列校验组内失效的存储设备(i,j)与第k列校验组内任一未失效的存储设备互相切换;(8)第j列、第k列校验组都降级记录;(9)继续进行记录直到每个校验组的失效存储设备数都已达到1个时,系统记录失效并报警。 |
地址 |
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