发明名称 积体电路之商标位置检测装置
摘要 本案创作系为一种积体电路之商标位置检测装置,其主要包含检测片及基座;该检测片系由透明抗静电压克力材质制成之片体,其上设有若干检测刻线,适当位置又设有若干定位孔者;该基座上设有若干定位销,该若干定位销恰可对应于检测片之若干定位孔者;藉此,可于钉架上设置若干孔洞,嗣将钉架套置于基座与检测片之间,复藉由检测刻线来对应积体电路表面之商标进行检测。
申请公布号 TW537399 申请公布日期 2003.06.11
申请号 TW090222629 申请日期 2001.12.19
申请人 华泰电子股份有限公司 发明人 苏振平;蔡敏郎;李永元;陈佳玉
分类号 G01D11/24 主分类号 G01D11/24
代理机构 代理人 洪仁杰 高雄市三民区九如二路五九七号十四楼之二
主权项 1.一种积体电路之商标位置检测装置,主要包含检测片及基座;其中:检测片,其系由透明抗静电压克力材质制成之片体,其上设有若干检测刻线,适当位置又设有若干定位孔者;基座,其上设有若干定位销,该若干定位销恰可对应于检测片之若干定位孔者;藉此,可将钉架套置于基座与检测片之间,复藉由检测刻线来对应积体电路表面之商标进行检测。2.如上述申请专利范围第1项所述之积体电路之商标位置检测装置,其中该检测片之检测刻线设置位置及方式,可依积体电路表面商标之形态而设,使其为可对应积体电路商标位置之线条者。3.如上述申请专利范围第1项所述之积体电路之商标位置检测装置,其中该检测片之定位孔底部设有金属套筒,使基座之各定位销可易于且准确的穿入定位孔者。图式简单说明:第一图:钉架及其积体电路之立体示意图。第二图:积体电路前视平面图。第三图:本案创作之立体构造图。第四图:本案创作之侧视平面构造及局部剖视示意图。第五图:本案创作之使用示意图。第六图:本案创作之检测积体电路商标示意图。第七图:本案创作之检测片另一实施例示意图。第八图:本案创作之检测积体电路商标示意图。
地址 高雄市楠梓区楠梓加工出口区中三街九号