发明名称 Verfahren zum Ermitteln statistischer Schwankungen von Werten geometrischer Eigenschaften von für die Herstellung von Halbleiterbauelementen notwendigen Strukturen
摘要 Es werden Eingangsparameter (F; D) und diesen zugehörige technisch mögliche Parameterwerte (Fi; Dj) ausgewählt, aus denen Stützpunktwerte (B) und diesen zugeordnete Ergebniswerte (CDk) für die geometrischen Eigenschaften (CD) gewonnen werden. An jedem Stützpunktwert (B) wird der jeweilige Ergebniswert (CDk) dem dem jeweiligen Stützpunktwert (B) zugeordneten Parameterwert (Fi; Dj) zugeordnet. An die Ergebniswerte (CDk) wird im Gesamtbereich der zugeordneten Parameterwerte (Fi; Dj) ein "Response Surface" (RS) angepasst, woraus sich Response-Werte (RV) ergeben, für die in Teilbereichen (URS) ein Minimalwert (RVmin) und ein Maximalwert (RVmax) ermittelt werden. Aus dem insgesamt größten (RVmaxmax) und dem insgesamt kleinsten (RVminmin) Response-Wert (RV) wird ein Gesamtintervall (IVges) gebildet, das in eine gegebene Anzahl von Teil-Intervallen (IVT) eingeteilt wird. Für jedes der Teil-Intervalle (IVT) werden die einzelnen Wahrscheinlichkeiten aufaddiert, was einen Gesamtwahrscheinlichkeitswert für ein jeweiliges Teil-Intervall (IVT) über alle Werte-Intervalle (IV) hinweg liefert.
申请公布号 DE10151207(A1) 申请公布日期 2003.05.08
申请号 DE20011051207 申请日期 2001.10.17
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 ROESIGER, MARTIN
分类号 G06F17/18;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66;H01L21/822 主分类号 G06F17/18
代理机构 代理人
主权项
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