自动自测试系统

摘要

一个自动自测试系统包括多个传感器处理通道(100A-100D)，每个通道有一个传感器(102A-102D)，用于直接或间接地为比较器(106A-106D)提供数字值，比较器(106A-106D)将被测值与预设值比较，然后提供给符合逻辑(108A-108D)，符合逻辑(108A-108D)将此比较器的输出与其它通道的比较器的输出进行评估，提供一个通过/故障条件的输出指示。每个传感器处理通道包括两个子通道，当被分离的子通道接受测试处理器的离线测试时，它们可以连入处理通道。在测试时为子通道提供一个数字值，并检测其输出，以判定被测试的子通道的功能是否正确，由此来完成测试。监视系统的组合逻辑状态并将其转换为一个十进制值，此值与对应于系统的有限个已知为好的逻辑状态的一组十进制值比较。如果此十进制值不是已知为好的逻辑状态的一组十进制值的成员，则表明有故障。

主权项

1、一个自动自测试系统，它带有用于测量参数并以多比特并行格式提供电输出的传感器(102)，还有输出装置(110，112)，用于响应传感器(102)的被处理的输出而启动一个动作，其特征在于：第一处理通道和第二处理通道可以在处理器(TP)的控制下，选择性地通过一个数据开关(DSW)连接到该传感器(102)的多比特数字输出，处理器(TP)用于处理从该传感器(102)的数字输出，并向输出装置(110，112)提供处理后的输出，该测试处理器(TP)控制该数据开关(DSW)交替顺序地将上述第一处理通道和第二处理通道的一个然后是另一个通过数据开关(DSW)连接到该传感器(102)的数字输出上，以处理其数字输出，另外，当一个处理通道在处理传感器(102)的数字输出时，该测试处理器(TP)给另一个处理通道加一个数字测试信号，并检测另一个处理通道的输出，以测试其功能。