| 发明名称 |
Integrierter Halbleiterspeicher mit Selbsttest sowie Test-Anordnung mit Test-System und integriertem Halbleiterspeicher |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE10120255(C2) |
申请公布日期 |
2003.03.20 |
| 申请号 |
DE20011020255 |
申请日期 |
2001.04.25 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
DOLL, ANDREAS;SCHAFFROTH, THILO |
| 分类号 |
G11C29/44;G11C29/48;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/44 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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