发明名称
摘要 <p>A method for manufacturing a phase shift mask of the invention comprises a process of protecting a side wall of an opening in a light-damping film by means of a resist and then etching the light-damping film to be so thin as a halftone film.</p>
申请公布号 JP3351485(B2) 申请公布日期 2002.11.25
申请号 JP19930310902 申请日期 1993.12.10
申请人 发明人
分类号 G03F1/32;G03F1/68;G03F1/80;H01L21/027;(IPC1-7):G03F1/08 主分类号 G03F1/32
代理机构 代理人
主权项
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