发明名称 | 具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统 | ||
摘要 | 本发明公开了一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统,使用复数测试频道对复数待测管芯进行测试,包括一编码装置一测试装置及一辨识装置;其中,编码装置产生每一待测管芯的识别码且每一识别码与每一测试频道相对;测试装置对待测管芯进行测试而读取并转送每一待测管芯的测试结果与识别码;辨识装置自测试装置接收每一待测管芯的测试结果与识别码,并依据识别码,将每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道;本系统可免除因接线错误而使测试结果不正确的问题。 | ||
申请公布号 | CN1378259A | 申请公布日期 | 2002.11.06 |
申请号 | CN01110411.2 | 申请日期 | 2001.04.03 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 张国勇 |
分类号 | H01L21/66;G01R31/26;G01R31/28 | 主分类号 | H01L21/66 |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 穆魁良 |
主权项 | 1.一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统,包括对复数待测管芯进行测试的复数测试频道,其特征在于:它包括:一产生每一待测管芯的识别码且将每一识别码与每一测试频道相对的编码装置;一对该些待测管芯进行测试而读取并转送每一待测管芯的测试结果与识别码的测试装置;一自该测试装置接收每一待测管芯的测试结果与识别码、并依据该些识别码将每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道的辨识装置。 | ||
地址 | 台湾省新竹科学工业园区 |