发明名称 Systeme und Verfahren zum Ermöglichen eines Testens von Anschlußstellenempfängern integrierter Schaltungen
摘要 Es ist eine integrierte Schaltung (IC) vorgesehen, die ausgelegt ist, um Informationen zu liefern, die der Empfängereinstellzeit und/oder der Empfängerhaltezeit von Anschlußstellen der IC entsprechen. Eine bevorzugte integrierte Schaltung umfaßt eine erste Anschlußstelle, die mit mindestens einem Abschnitt der IC elektrisch kommuniziert. Die erste Anschlußstelle umfaßt einen ersten Treiber und einen ersten Empfänger, wobei der erste Treiber konfiguriert ist, um einer Komponente, die sich außerhalb der IC befindet, ein Ausgangssignal der ersten Anschlußstelle zu liefern, und wobei der erste Empfänger konfiguriert ist, um von einer Komponente, die sich außerhalb der IC befindet, ein Eingangssignal der ersten Anschlußstelle zu empfangen. Der erste Empfänger ist ferner konfiguriert, um einer Komponente, die sich in der IC befindet, als Antwort auf das Eingangssignal der ersten Anschlußstelle ein digitales Ausgangssignal des ersten Empfängers zu liefern. Ferner ist eine erste Testschaltung vorgesehen, die sich in der IC befindet. Die erste Testschaltung ist ausgelegt, um Informationen zu liefern, die der Empfängereinstellzeit und/oder der Empfängerhaltezeit der ersten Anschlußstelle entsprechen. Systeme und Verfahren sind ebenfalls vorgesehen.
申请公布号 DE10211894(A1) 申请公布日期 2002.10.10
申请号 DE20021011894 申请日期 2002.03.18
申请人 AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE) 发明人 REARICK, JEFFREY R.;ROHRBAUGH, JOHN G.;SHEPSTON, SHAD
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/319;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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