发明名称 Método para inspecionar a qualidade superficial de um eletrodo
摘要 "MéTODO PARA INSPECIONAR A QUALIDADE SUPERFICIAL DE UM ELETRODO". A presente invenção se refere a um método para inspecionar a qualidade superficial do depósito criado sobre a superfície de um eletrodo no tratamento eletrolítico de metais. De acordo com a presente invenção, um catodo (1), obtido de tratamento eletrolítico é iluminado por pelo menos uma fonte de luz (3) colocada em uma posição oblíqua com relação ao plano (12) que constitui a superfície do catodo, sendo produzida uma imagem da superfície iluminada (12) com pelo menos uma câmera (8); a dita imagem é depois transmitida para um dispositivo de processamento de imagem (9) e com base na dita imagem são definidas possíveis irregularidades da superfície, a fim de classificar o depósito (11) localizado no catodo para a próxima etapa de processamento.
申请公布号 BR0015345(A) 申请公布日期 2002.06.25
申请号 BR20000015345 申请日期 2000.10.27
申请人 OUTOKUMPU OYJ 发明人 MARTTILA TOM
分类号 G01N21/84;C25C1/00;G01N21/88;G01Q30/04;G01Q30/06;(IPC1-7):G01N21/88;G01N21/896 主分类号 G01N21/84
代理机构 代理人
主权项
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