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发明名称
PHASE-SHIFT PHOTOMASK FOR PATTERNING HIGH DENSITY FEATURES
摘要
申请公布号
KR20020036962(A)
申请公布日期
2002.05.17
申请号
KR1020017016662
申请日期
2001.12.26
申请人
发明人
分类号
G03F1/08
主分类号
G03F1/08
代理机构
代理人
主权项
地址
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