发明名称 | 偏光应力仪检定标准装置及光强极小值定位方法 | ||
摘要 | 本发明所基于的测试原理是,在优化1/4波片法及半影法的基础上,又提出了光电模拟多个半影法;根据上述原理制成的偏光应力仪检定标准装置,通过所建立的光学件转动时光强和转动角度的数学模型,以及采用最小二乘法对测试的光强数据进行拟合的处理方法,就可按照本发明提出的调试与测试步骤,找出与之对应的光学件在光强极小值时的位置角度,并通过计算机控制使该光学件定位于此,最终求出被测光学样品的应力双折射光程差Δ。 | ||
申请公布号 | CN1303006A | 申请公布日期 | 2001.07.11 |
申请号 | CN01106759.4 | 申请日期 | 2001.02.22 |
申请人 | 中国兵器工业第二○五研究所 | 发明人 | 黎高平;刘训章;宗亚康;孔军;杨照金 |
分类号 | G01M11/02 | 主分类号 | G01M11/02 |
代理机构 | 陕西电子工业专利事务所 | 代理人 | 赵振红 |
主权项 | 1.一种偏光应力仪检定标准装置,主要包括由光源组件(1a~1e)、起偏器(1f)构成的线偏振光组件(1)、光学样品转动组件(2)、1/4波片(3)、由检偏器(4a)、聚光透镜(4b)和光电探测器(4c)等构成的检测组件(4),其特征在于:还包括一套由计算机、信号采集与处理电路、步进电机驱动电路、采集卡、打印机等组成的计算机控制与数据采集系统(5);第一、第二步进电机根据计算机指令分别通过各自的驱动电路驱动第一、第二转台由此带动光学样品组件(2)、1/4波片(3)转动;第三步进电机与检偏器(4a)同轴安装,并根据计算机指令直接带动检偏器(4a)、聚光透镜(4b)和光电探测器(4c)一起转动;线偏振光组件(1)发出的单色准直光经光学样品(2)、1/4波片(3)、检偏器(4a)后通过聚光透镜(4b)聚焦到光电探测器(4c),光电探测器(4c)输出的模拟电信号送入信号采集与处理电路,其输出的数字信号由计算机读取和运算。 | ||
地址 | 710065陕西省西安市电子城123信箱 |