发明名称 光弹调制式椭圆偏光仪中元件的偏光角量测法
摘要 一量测光弹调制式椭圆偏光仪中元件的偏振角与反射面之间夹角的方法:其所含元件为偏光片,光弹调制器及析光片。此方法包括一光源通过一偏振向为45度之线性偏极片及一光弹调制器,其相位调制在0.383λ,然后照射在待测物上,量测径由析光片三个偏振角各相差60度所反射之光的亮度直接推算元件偏振角与反射面之间夹角。椭圆参数Ψ亦可由同样的量测测出。
申请公布号 TW428082 申请公布日期 2001.04.01
申请号 TW088108791 申请日期 1999.06.03
申请人 赵于飞 发明人 赵于飞;王昌国;刘行
分类号 G01J4/00;G01N21/21 主分类号 G01J4/00
代理机构 代理人
主权项 1.光弹调制式椭圆偏光仪中元件之偏光角量测方 法由以下四部份所组成: 一偏光光源,由一光源及一可旋转之偏光片组成, 用以提供量测所需的偏极光,及 一可旋转的待测物装置架用以提供量测所需的入 射角,及 一侦测系统,由一可旋转式析光片,一光侦测器,一 信号控制元件,锁相放大器,及电脑等所组成的侦 测系统,用以分解直流及交流信号,量测,及 一光弹调制器及其控制器; 其特征在于:将入射偏光片调至45度之偏光角,将光 弹调制器的光轴放置于0度并将其相位调至2.42,经 信号控制器将直流电压Vdc信号送入锁相放大器,利 用侦测器分别量测析光片的偏光角在A,A+60及A+120 度的亮度,藉由三个亮度换算元件,偏光片,光弹调 制器之光轴及析光片的偏光角与反射面的夹角 并同时换算待测物的椭圆偏极参数。2.依据请 求专利部份第1项的光弹调制式椭圆偏光仪中元件 之偏光角量测方法,其中,前述三亮度分别量取析 光片的偏光角于A,A+60及A+120,且亮度分布可表示为 其中三元件与反射面的夹角可由三亮度推算。3 .依据请求专利部份第1项的光弹调制式椭圆偏光 仪中元件之偏光角量测方法,其中,前述三亮度及 申请专利范围第2项所述夹角的补助反算待测物的 椭圆偏极参数。图式简单说明: 第一图系绘示本发明的光弹调制式椭圆偏光仪的 架构图
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