发明名称 PATTERN RECOGNITION BY MEANS OF AN EXAMINATION OF SUPPLEMENTARY FEATURES AFTER A PARTIAL PROCESSING
摘要 <p>Bei einem Mustererkennungssystem wird in einer Lernphase ein später zu erkennendes Muster vorgegeben. Dieses Muster wird sequentiell erfaßt, das heißt die aussagekräftigen Bereiche des Musters werden erfaßt und darüber hinaus wird auch die räumliche Beziehung zwischen diesen Bereichen abgespeichert. In der Erkennungsphase wird auf Grundlage der erfaßten Daten eines ersten Bereichs eines zu erkennenden Musters sowie auf Grundlage der abgespeicherten Daten eine Hypothese erzeugt, die ein vermutetes Muster angibt und weiterhin angibt, wo sich weitere markante Bereiche in dem zu erkennenden Muster befinden sollten, wenn die Vermutung korrekt ist.Muster werden also einerseits durch ihre lokale Information sowie andererseits durch ihre räumliche Beziehung zueinander erlernt, abgespeichert und dann wiedererkannt. Die Anwendungsmöglichkeiten der vorliegenden Erfindung liegen z.B. in der Robotik, der Textanalyse, der Bildanalyse, aber auch im Medizintechnik-Bereich (beispielsweise bei der automatischen Tumorerkennung in Mammographien etc.).</p>
申请公布号 WO2000073980(A1) 申请公布日期 2000.12.07
申请号 DE2000001648 申请日期 2000.05.23
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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