发明名称 TEST PATH MAKING CIRCUIT FOR CUSTOM I.C.
摘要
申请公布号 KR100205588(B1) 申请公布日期 1999.07.01
申请号 KR19920021307 申请日期 1992.11.13
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 JEONG, NAK-HO
分类号 G01R31/02;(IPC1-7):G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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