| 发明名称 |
A dual entrance window ion chamber for measuring x-ray exposure |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0725425(B1) |
申请公布日期 |
1999.03.10 |
| 申请号 |
EP19950118960 |
申请日期 |
1995.12.01 |
| 申请人 |
KEITHLEY INSTRUMENTS, INC. |
发明人 |
LABBE, MICHAEL STEVEN |
| 分类号 |
H01J47/02;G01T1/185;(IPC1-7):H01J47/02 |
主分类号 |
H01J47/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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