发明名称 THE TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CHIP PACKAGE
摘要
申请公布号 KR0145955(B1) 申请公布日期 1998.12.01
申请号 KR19950008339 申请日期 1995.04.11
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD 发明人 CHON, JE-SUK;CHOE, CHAN-HO;CHO, INN-SUB;SIM, WON-SUB
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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