发明名称 | GaN/Al<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>复合材料在Ⅲ-V族氮化物外延生长中做衬底的方法 | ||
摘要 | 本发明首次提出了一种以GaN/Al<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>做为一种Ⅲ-Ⅴ族氮化物外延的复合衬底及其制备方法和有关的质量要求;直接生长GaN等Ⅲ-Ⅴ族氮化物单晶薄膜,提高成品率,有好的重复性,涉及以GaN为基础的光发射二极管(LED)、激光器(LD)、场效应晶体管(FET)、光电探测器等器件的制备,并直接和Ⅲ-Ⅴ氮化物半导体的光电器件、电子学器件的制备技术有关。 | ||
申请公布号 | CN1174401A | 申请公布日期 | 1998.02.25 |
申请号 | CN97115033.8 | 申请日期 | 1997.07.24 |
申请人 | 北京大学 | 发明人 | 张国义;杨志坚;李景 |
分类号 | H01L21/02 | 主分类号 | H01L21/02 |
代理机构 | 北京大学专利事务所 | 代理人 | 余长江 |
主权项 | 1.一种GaN/Al2O3复合材料在III-V族氮化物外延生长中做衬底的方法,复合材料分为Al2O3层,GaN过渡层和GaN层,其特征在于GaN/Al2O3复合材料的GaN层表面如镜面光亮,无色透明,1000倍光学显微镜下观测不到明显的缺陷特征,用此复合材料做为衬底直接生长GaN等III-V族氮化物。 | ||
地址 | 100871北京市海淀区北京大学 |