| 发明名称 |
Testing method, testing circuit and semiconductor integrated circuit having testing circuit |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0398816(B1) |
申请公布日期 |
1997.08.20 |
| 申请号 |
EP19900401330 |
申请日期 |
1990.05.18 |
| 申请人 |
FUJITSU LIMITED |
发明人 |
TOKUDA, HIDEO;TANIZAWA, TETSU |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;(IPC1-7):G06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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