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发明名称 Method of acceleration testing of an LSI integrated circuit comprising a microprogram control system
摘要
申请公布号 EP0496403(B1) 申请公布日期 1997.04.02
申请号 EP19920101095 申请日期 1992.01.23
申请人 NEC CORPORATION 发明人 HARIGAI, HISAO
分类号 G01R31/28;G06F11/22;G06F11/24;G06F11/27;(IPC1-7):G06F11/24;G06F11/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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