发明名称 CAPACITANCE MEASURING PATTERN AND ITS MEASURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH0974122(A) 申请公布日期 1997.03.18
申请号 JP19950226850 申请日期 1995.09.04
申请人 SUMITOMO METAL IND LTD 发明人 HIROTA YOSHIHIRO
分类号 G01R27/26;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R27/26
代理机构 代理人
主权项
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