| 发明名称 |
SAMPLE HEATER IN SCANNING PROBE MICROSCOPE |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH08233834(A) |
申请公布日期 |
1996.09.13 |
| 申请号 |
JP19950039508 |
申请日期 |
1995.02.28 |
| 申请人 |
JEOL LTD |
发明人 |
SUEYOSHI TAKASHI;SATO TOMOSHIGE |
| 分类号 |
G01B7/34;G01B7/00;G01N37/00;G01Q10/00;G01Q30/08;G01Q30/10;G01Q30/20;G01Q90/00;G02B21/30;H01J37/20;H01J37/28;(IPC1-7):G01N37/00 |
主分类号 |
G01B7/34 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
