发明名称 TEST-STATION CONTROL CIRCUIT OF INTEGRATED-CIRCUIT TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH0772215(A) 申请公布日期 1995.03.17
申请号 JP19930238780 申请日期 1993.08.31
申请人 ANDO ELECTRIC CO LTD 发明人 WATANABE AKIRA
分类号 G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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