| 摘要 |
Die Erfindung befaßt sich mit der Messung der Elektronenstrahldichte von Elektronenstrahlen bei Schattenmaskenröhren. Nach einem bekannten Verfahren wird dazu der Strahl über den Schirm verschoben und Bilder von den Leuchtfleckengebieten aufgenommen, wie sie bei Verschiebung des Strahls bei Wirkung von Blendmitteln erkennbar sind. Sodann werden die Bilder bezüglich der Leuchtdichteverteilung ausgewertet. Dieses Verfahren ist außerordentlich justageintensiv. Deshalb wird erfindungsgemäß angegeben, daß die Bilder von einer Bildwandlerkamera aufgenommen werden, daß im gesamten Gesichtsfeld des Bildwandlers Leuchtflecke erzeugt werden, die als simulierte Blendmittel bei der Leuchtfleckabschnittserkennung dienen, und daß zur Feststellung der Leuchtdichteverteilung die Verschiebeschrittweite so gewählt ist, daß die vor einem Verschiebeschritt erkennbaren Leuchtfleckabschnitte nach dem Verschiebeschnitt gerade nicht mehr erkennbar sind, daß die Kamera von dem ersten und nach jedem Verschiebeschritt ein Bild aufnimmt und daß alle Bilder gespeichert und zu einem Gesamtbild für die Leuchtdichteverteilung zusammengesetzt werden. <IMAGE>
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