测试处理机

摘要

揭露一种测试处理机，其包括一测试托盘、至少一开启单元、以及一位置变换装置。该测试托盘侧边排列复数个插入件。每一插入件上装载有至少一半导体元件。该开启单元可开启位在该测试托盘该侧之一部分上的该等插入件。该位置变换装置可移动至少一开启单元使该至少一开启单元位于该测试托盘该侧之另一部份，进而使得该至少一开启单元可开启位在该测试托盘该侧之另一部份上的该等插入件。本发明可根据半导体元件大小、产品成本、以及零件置换时间降低置换零件之数量。此外，本发明可以轻易的应用于各种类型测试器中。