发明名称 |
RESEAU LOGIQUE PROGRAMMABLE COMPORTANT DES CIRCUITS DE TEST ET DE VERIFICATION |
摘要 |
<P>L'INVENTION CONCERNE LES RESEAUX LOGIQUES PROGRAMMABLES PAR L'UTILISATEUR.</P><P>DANS UN RESEAU LOGIQUE PROGRAMMABLE PAR L'UTILISATEUR, ON UTILISE DES CIRCUITS DE DETECTION EXISTANTS 22-29 EN ASSOCIATION AVEC DES CIRCUITS 70-77 PERMETTANT D'ISOLER L'EMPLACEMENT DE CHAQUE FUSIBLE, DE FACON A POUVOIR VERIFIER LA PROGRAMMATION ET EFFECTUER DES TESTS EN ALTERNATIF DANS DES CONDITIONS DE TENSION ET DE FREQUENCE IDENTIQUES A CELLES QUI EXISTENT PENDANT LE FONCTIONNEMENT NORMAL DU CIRCUIT PROGRAMME.</P><P>APPLICATION A LA FABRICATION DES CIRCUITS INTEGRES.</P>
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申请公布号 |
FR2566210(A1) |
申请公布日期 |
1985.12.20 |
申请号 |
FR19850009163 |
申请日期 |
1985.06.17 |
申请人 |
MONOLITHIC MEMORIES INC |
发明人 |
MARK E. FITZPATRICK, CYRUS Y. TSUI, ANDREW K. CHAN ET ALBERT L. CHAN;TSUI CYRUS Y;CHAN ANDREW K;CHAN ALBERT L |
分类号 |
G01R31/3185;H03K19/003;H03K19/177;(IPC1-7):H03K19/177 |
主分类号 |
G01R31/3185 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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