| 发明名称 |
SCREENING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5440571(A) |
申请公布日期 |
1979.03.30 |
| 申请号 |
JP19770106674 |
申请日期 |
1977.09.07 |
| 申请人 |
TOKYO SHIBAURA ELECTRIC CO |
发明人 |
KONDOU TAKEO;KAWANO TAKAHIDE |
| 分类号 |
H01L21/66;H01L21/28;H01L21/283;H01L21/306 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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