发明名称 METODO PER MISURARE LO SPESSORE DI UNO STRATO DI SILICIO DANNEGGIATO DI ATTACCHI CON PLASMA
摘要
申请公布号 ITMI981504(A1) 申请公布日期 1999.12.30
申请号 IT1998MI01504 申请日期 1998.06.30
申请人 STMICROELETTRONICA SRL 发明人 SAVOIA CLAUDIO;ALBA SIMONE;BELLANDI ENRICO;CANALI FRANCESCA
分类号 G01B11/06;G01N21/21 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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