发明名称 沟槽栅功率场效应晶体管
摘要 本发明提供了一种沟槽栅功率场效应晶体管,包括:源极层和漏极层,所述源极层设置在衬底的第一表面,所述漏极层设置在衬底与第一表面相对的第二表面;掺杂阱层,所述掺杂阱层设置在所述源极层和漏极层之间,且与所述源极层和漏极层贴合,所述源极层和漏极层具有第一导电类型,所述掺杂阱层具有第二导电类型;栅极,所述衬底的第一表面进一步具有一沟槽,所述沟槽内壁覆盖有栅介质层,所述栅极在所述栅介质层围拢的空间内;所述掺杂阱层在垂直于衬底表面的方向包括由Si<sub>1‑x</sub>Ge<sub>x</sub>/Si构成的异质结。本发明的优点在于,可以通过调整Ge的摩尔百分比来调整异质结的能带结构,实现器件的优化。
申请公布号 CN103745998B 申请公布日期 2016.10.26
申请号 CN201310745065.4 申请日期 2013.12.31
申请人 上海新傲科技股份有限公司 发明人 魏星;徐大伟;狄增峰;方子韦
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人 孙佳胤;翟羽
主权项 一种沟槽栅功率场效应晶体管,包括:源极层和漏极层,所述源极层设置在衬底的第一表面,所述漏极层设置在衬底与第一表面相对的第二表面;掺杂阱层,所述掺杂阱层设置在所述源极层和漏极层之间,且与所述源极层和漏极层贴合,所述源极层和漏极层具有第一导电类型,所述掺杂阱层具有第二导电类型;栅极,所述衬底的第一表面进一步具有一沟槽,所述沟槽内壁覆盖有栅介质层,所述栅极在所述栅介质层围拢的空间内;其特征在于:所述掺杂阱层在垂直于衬底表面的方向包括由Si<sub>l一X</sub>Ge<sub>X</sub>/Si构成的异质结,其中x大于0且小于1,所述Si<sub>l一X</sub>Ge<sub>X</sub>层直接与所述源极接触。
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