发明名称 自动化集成电路整机测试控制方法
摘要 一种自动化集成电路整机测试设备,通过一控制装置控制整个自动化集成电路整机测试设备的测试流程。其步骤包括:驱动一自动传送装置从集成电路供应装置抓取被测集成电路,分送至各个测试用电脑。驱动一自动插拔机构将各个被测集成电路分别与对应测试用电脑中的连接器连接。驱动各个测试用电脑进行一预定测试程序,并同时驱动一影像传感器监测执行状态,以决定各个集成电路是否正常。驱动自动插拔机构将被测集成电路从该测试用电脑中卸除,驱动自动传送装置将集成电路送至集成电路分类装置,根据其测试结果分类集成电路。
申请公布号 CN100352029C 申请公布日期 2007.11.28
申请号 CN02146016.7 申请日期 2002.10.23
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 祁明仁;郭澎嘉
分类号 H01L21/66(2006.01);G01R31/28(2006.01) 主分类号 H01L21/66(2006.01)
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 王学强
主权项 权利要求书1.一种自动化集成电路整机测试控制方法,应用于一自动化集成电路整机测试设备,该自动化集成电路整机测试设备包括:多台测试用计算机,每一该些测试用计算机适于承载及测试一被测集成电路,其中该测试用计算机承载该被测集成电路后构成一整机计算机,以进行整机测试;多个自动插拔机构,适于将该些被测集成电路置入该些测试用计算机及自该些测试用计算机中移除;一集成电路供应装置,适于暂存该些被测集成电路;一集成电路分类装置,具有多个暂存位置,用以放置测试后的该些被测集成电路;一自动传送装置,适于自该集成电路供应装置抓取该些被测集成电路,分送至该些测试用计算机,及将其传送至该集成电路分类装置中;至少一影像传感器,适于感测该些测试用计算机的实时操作影像;以及至少一控制装置,电性连接该些测试用计算机、该自动传送装置、该些自动插拔机构及该些影像传感器,其特征是,该自动化集成电路整机测试控制方法包括:该控制装置发出一第一信号,操控该自动传送装置,自该集成电路供应装置抓取该些被测集成电路,分送至该些测试用计算机;该控制装置发出一第二信号至该些自动插拔机构,将该些被测集成电路置入该些测试用计算机,使其与该些测试用计算机电性连接,以形成多台整机计算机;该控制装置发出一第三信号至该些整机计算机,驱动该些整机计算机进行一预定的测试程序,并同时发出一第四信号驱动该影像传感器,侦测该些整机计算机的实时操作影像;该控制装置分析该些整机计算机的测试结果及该些实时操作影像,判断该些被测集成电路是否通过测试;该控制装置发出一第五信号,驱动该些自动插拔机构将该些被测集成电路,自该些整机计算机中移除,并发出一第六信号,驱动该自动传送装置将该些被测集成电路传送至该集成电路分类装置,依照通过测试与否,将该些被测集成电路放置于对应的该些暂存位置;以及重复上述步骤。
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