| 发明名称 | 冗余方法和半导体电路 | ||
| 摘要 | 在冗余方法中,冗余开关被多个冗余目标共用。冗余开关通过冗余开关中的多个冗余部分分开地、独立地连接到冗余目标中的恢复线。冗余目标中产生的故障用与冗余开关连接的冗余目标中的恢复线的信息代替,由此恢复故障。本发明还公开了采用上述方法的半导体电路。 | ||
| 申请公布号 | CN1222740A | 申请公布日期 | 1999.07.14 |
| 申请号 | CN98124993.0 | 申请日期 | 1998.11.27 |
| 申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 永田恭一 |
| 分类号 | G11C11/40;G11C29/00 | 主分类号 | G11C11/40 |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏 |
| 主权项 | 1．一种冗余方法，其特征在于包括以下步骤：冗余开关(20)被多个冗余目标(11、12)共用；通过冗余开关(20)中的多个冗余部分(31、32)分开地、独立地把冗余开关连接到冗余目标(11、12)中的恢复线(RYSWA、RYSWB)；和用与冗余开关(20)连接的冗余目标(11、12)中的恢复线(RYSWA、RYSWB)的信息代替冗余目标(11、12)中产生的故障，由此恢复故障。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||