发明名称 |
一种用于继电器的测试设备 |
摘要 |
本发明涉及一种用于继电器的测试设备,包括继电器测试主板电路及MCU单元,所述继电器测试主板电路的输入端与电源单元的输出端相连,所述继电器测试主板电路的输出端与扩展/驱动电路的输入端相连,所述继电器测试主板电路的输入端与测试兼容治具的输出端相连,所述继电器测试主板电路的输出端与MCU单元的输入端相连,所述MCU单元的输入端还与电源单元、扩展/驱动电路及测试兼容治具的输出端相连,所述MCU单元的输出端与上位机的输入端相连。本发明通过检测能有效降低应用成本,有助于缩短测试周期,降低测试成本。 |
申请公布号 |
CN106226691A |
申请公布日期 |
2016.12.14 |
申请号 |
CN201610664487.2 |
申请日期 |
2016.08.15 |
申请人 |
苏州韬盛电子科技有限公司 |
发明人 |
施元军;郭靖;刘凯 |
分类号 |
G01R31/327(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/327(2006.01)I |
代理机构 |
北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 |
代理人 |
刘洪勋 |
主权项 |
一种用于继电器的测试设备,其特征在于:包括继电器测试主板电路及MCU单元,所述继电器测试主板电路的输入端与电源单元的输出端相连,所述继电器测试主板电路的输出端与扩展/驱动电路的输入端相连,所述继电器测试主板电路的输入端与测试兼容治具的输出端相连,所述继电器测试主板电路的输出端与MCU单元的输入端相连,所述MCU单元的输入端还与电源单元、扩展/驱动电路及测试兼容治具的输出端相连,所述MCU单元的输出端与上位机的输入端相连。 |
地址 |
215000 江苏省苏州市工业园区唯文路18号 |