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发明名称
半導体装置およびその製造方法
摘要
半導体装置(100)は、基板(11)と、基板(11)に支持され、結晶質シリコンを主として含む第1活性領域(13c)を有する第1薄膜トランジスタ(10A)と、基板(11)に支持され、結晶質部分を有する酸化物半導体を主として含む第2活性領域(17c)を有する第2薄膜トランジスタ(10B)とを備える。
申请公布号
JPWO2015052991(A1)
申请公布日期
2017.03.09
申请号
JP20150541468
申请日期
2014.08.15
申请人
シャープ株式会社
发明人
牧田 直樹;刀根 覚
分类号
H01L29/786;H01L21/20;H01L21/336;H01L21/8234;H01L27/08;H01L27/088
主分类号
H01L29/786
代理机构
代理人
主权项
地址
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