发明名称 一种测试框架结构
摘要 本发明公开了一种测试框架结构,包括:测试框架,用于将待测试件固定安装在所述测试框架内;固定框架,所述固定框架预埋在测试洞口内;所述固定框架套设在所述测试框架的外侧,且所述固定框架与所述测试框架之间可拆卸连接;调节框架,用于调节所述测试框架与所述固定框架之间的安装距离;所述调节框架设置在所述测试框架与所述固定框架之间,且所述调节框架可拆卸连接于所述固定框架。本发明中固定框架,方便安装调节框架、测试框架;可以搭配测试配件将不同高度、不同形状的待测试件固定安装在测试框架内;调节框架,不仅可以密封测试框架与固定框架之间的空隙,还可以在安装测试框架时,方便测试框架进行细微调节,以实现完全贴合。
申请公布号 CN106018564A 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201610586331.7 申请日期 2016.07.25
申请人 上海声望声学科技股份有限公司 发明人 罗伟;江海斌
分类号 G01N29/22(2006.01)I;G01N29/04(2006.01)I 主分类号 G01N29/22(2006.01)I
代理机构 上海硕力知识产权代理事务所 31251 代理人 郭桂峰
主权项 一种测试框架结构,其特征在于,包括:测试框架,用于将待测试件固定安装在所述测试框架内;固定框架,所述固定框架预埋在测试洞口内;所述固定框架套设在所述测试框架的外侧,且所述固定框架与所述测试框架之间可拆卸连接;调节框架,用于调节所述测试框架与所述固定框架之间的安装距离;所述调节框架设置在所述测试框架与所述固定框架之间,且所述调节框架可拆卸连接于所述固定框架。
地址 200336 上海市长宁区双流路31号607-608室