发明名称 | 监控存储设备的IO性能的装置和方法 | ||
摘要 | 监控存储设备的IO性能的装置和方法。装置包括:IO性能数据采集模块,以预定的采样频率采集该存储设备的IO性能数据,监控基准生成模块,以预定时间段的IO性能数据为基础,计算性能控制基线,以及根据该预定时间段内的超过该基线的采样点的计数计算阈值,分析模块,根据所述基线和所述阈值监控所述存储设备的IO性能。 | ||
申请公布号 | CN105589785A | 申请公布日期 | 2016.05.18 |
申请号 | CN201510896968.1 | 申请日期 | 2015.12.08 |
申请人 | 中国银联股份有限公司 | 发明人 | 郝建明;张炼;王夕夕;沈刚;张育新 |
分类号 | G06F11/30(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/30(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 郑冀之;付曼 |
主权项 | 一种监控存储设备的IO性能的装置,其特征在于,包括:IO性能数据采集模块,以预定的采样频率采集该存储设备的IO性能数据,监控基准生成模块,以预定时间段的IO性能数据为基础,计算性能控制基线,以及根据该预定时间段内的超过该基线的采样点的计数计算阈值,分析模块,根据所述基线和所述阈值监控所述存储设备的IO性能。 | ||
地址 | 200135 上海市浦东新区含笑路36号银联大厦 |