使用同步辐射检测多晶型物的方法

摘要

描述了使用由同步加速器源产生的X-射线检测多晶型物的方法。特别地，该方法能够检测以少量存在于以占优势量存在的多晶形化合物混合物中的特定多晶型物。该方法提供了对多晶型物混合物强有力的分辨并且特别适用于制药领域。

主权项

检测在一种或多种占优势的多晶型存在下的多晶型化合物的不占优势的多晶型的存在和/或测定其存在量的方法，其特征在于包含下列步骤：(A)提供样品，其包含所述多晶型化合物，该多晶型化合物为粉末形式或成形的固体形式或以下形式：其中使用液体混悬、分散或混合固体多晶型化合物；(B)提供来自标准强度与散射角的关系图中所述多晶型化合物的所述不占优势的多晶型的标记峰位置上的XRD分析的参比信息，所述标准强度与散射角的关系图与所述一种或多种占优势的多晶型的峰相关；(C)提供来自同步加速器源的同步辐射光束，所述同步辐射具有范围的波长；(D)使所述样品暴露于所述光束，其中所述光束在样品上具有1μm²－1cm²的斑点大小，所述斑点大小通过使用狭缝或针孔选择；(E)检查通过使样品暴露于同步辐射导致的可能的损害程度；(F)使用X‑线检测器采集衍射射线的强度和散射方向，同时任选地旋转所述样品以探测光束命中的样品体积的不同取向；(G)使所述样品相对于所述光束运动一次或多次，以使所述样品的不同区域暴露于所述光束，并且平衡可能的样品不均匀性，并且对样品的不同区域重复步骤(F)；(H)处理由所述X‑线检测器采集的所述射线的强度和散射的方向数据，以生成报道散射的X‑射线强度与散射角关系的至少一种图；(I)筛选所述图，以检测在散射角处所述多晶型化合物的所述不占优势的多晶型的一种或多种标记峰，在散射角处所述一种或多种占优势的多晶型不具有衍射峰；(J)任选地处理相当于所述一种或多种标记峰的数据，以对所述多晶型化合物的所述不占优势的多晶型相对于占优势的晶型定量。