发明名称 半导体装置
摘要 明提供一种确保半导体装置之可靠度的半导体装置。该半导体装置具备:基板;絶缘膜,埋入该基板,具有复数开口部;复数虚拟扩散层20,设置于位在复数开口部内之基板;复数电阻元件10,在电阻元件形成区域40中,以俯视时不与虚拟扩散层20重叠的方式设置于絶缘膜上,并往第1方向延伸;以及复数虚拟电阻元件12,在电阻元件形成区域40中,设置于絶缘膜上及虚拟扩散层20上,并往第1方向延伸;虚拟电阻元件12,俯视时,与于第2方向排列的至少二个虚拟扩散层20重叠,该第2方向与第1方向于基板在水平面内垂直。
申请公布号 TWI529910 申请公布日期 2016.04.11
申请号 TW101104557 申请日期 2012.02.13
申请人 瑞萨电子股份有限公司 发明人 高桥幸雄
分类号 H01L27/04(2006.01);H01L21/311(2006.01) 主分类号 H01L27/04(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项 一种半导体装置,具备:基板;絶缘膜,埋入该基板,具有复数开口部;复数虚拟扩散层,设置于位在该复数开口部内之该基板;复数电阻元件,在电阻元件形成区域中,以俯视时不与该虚拟扩散层重叠的方式设置于该絶缘膜上,并往第1方向延伸;以及复数虚拟电阻元件,在该电阻元件形成区域中,设置于该絶缘膜上及该虚拟扩散层上,并往该第1方向延伸;该虚拟电阻元件,俯视时与在第2方向排列的至少二个该虚拟扩散层重叠,该第2方向和该第1方向于该基板在水平面内垂直;该复数虚拟扩散层,设置于俯视时与该虚拟电阻元件重叠的区域,且未设置于该电阻元件形成区域中的其他区域。
地址 日本