发明名称 蛍光X線分析用試料保持具
摘要 【課題】測定の障害となる不純線を発生させず、高精度分析ができ、かつ、試料室からスムーズに搬出できる蛍光X線分析用試料保持具を提供する。【解決手段】本考案の蛍光X線分析用試料保持具1は、筒状の外側側壁部10a、および、薄膜状試料Sを支持する輪状の支持部10bを有して、薄膜状試料Sを内部に収容する保持部材10と、筒状の内側側壁部20a、および、薄膜状試料Sの周縁部に上方から当接する輪状の当接部20bを有し、保持部材10の内部に収容される入れ子に形成されて、当接部20bが当接する薄膜状試料の周縁部を上方から押さえる押さえ部材と、を備え、内側側壁部20aの上端20cが平板状部材30に当接した場合に、平板状部材30、押さえ部材20および当接部20bが当接する薄膜状試料Sで囲まれる内部空間とその外側の外部空間とを連通させる逃がし流路20dを、内側側壁部20aが有する。【選択図】図1
申请公布号 JP3203166(U) 申请公布日期 2016.03.17
申请号 JP20150006269U 申请日期 2015.12.11
申请人 株式会社リガク 发明人 高橋 学人;井上 稔
分类号 G01N23/22;G01N23/223 主分类号 G01N23/22
代理机构 代理人
主权项
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