发明名称 Vorrichtung zum thermisch-mechanischen Testen für elektrisch leitende Probentestsysteme und ein Verfahren für deren Verwendung
摘要 Vorrichtung (100) zum thermisch-mechanischen Testen zur Verwendung mit einem elektrischleitenden Probentestsystem. Die Vorrichtung weist einen ersten Kompressionsambossaufbau (102), einen Montagerahmen (104), welcher an den ersten Kompressionsambossaufbau (102) gekoppelt ist, und einen zweiten Kompressionsambossaufbau (106), welcher gegenüber dem ersten Kompressionsambossaufbau (102) und dem Montagerahmen (104) positioniert ist, auf. Der erste Kompressionsambossaufbau (102) weist eine Montageplatte (108), einen ersten Kompressionsamboss (110), welcher an die Montageplatte (108) gekoppelt ist, und ein Heizstrommassesystem (112), welches an die Montageplatte (108) gekoppelt ist, auf. Der Montagerahmen (104) weist einen Satz von leitenden Endplatten (114), einen Satz von isolierenden Verbindern (120), welcher die leitenden Endplatten (114) verbindet, und eine Vielzahl von Montagekomponenten, welche an die isolierenden Verbinder (120) und die Montageplatte (108) gekoppelt sind, auf. Der zweite Kompressionsambossaufbau (106) weist eine leitende Montageplatte (124), einen zweiten Kompressionsamboss (128), welcher an die leitende Montageplatte (124) gekoppelt ist, und ein Heizstrom-Bypass-System (132), welches an die leitende Montageplatte (124) und eine Endplatte der leitenden Endplatten (114) gekoppelt ist, auf.
申请公布号 DE112013005503(T5) 申请公布日期 2016.03.03
申请号 DE20131105503T 申请日期 2013.11.18
申请人 DYNAMIC SYSTEMS, INC. 发明人 DORMAN, ANDREW GREG
分类号 G01N3/18;G01N3/08 主分类号 G01N3/18
代理机构 代理人
主权项
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