发明名称 | 用于提取有机发光器件的相关曲线的系统和方法 | ||
摘要 | 公开了用于确定以及应用对于基于有机光有机发光器件(OLED)的像素上的老化影响的特性相关曲线的系统和方法。第一应力条件被施加于具有驱动晶体管和OLED的参考像素。基于参考电流的输出电压被周期性地测量以便确定第一预定的应力条件之下的参考像素的电学特性。周期性地测量参考像素的亮度以便确定参考像素的光学特性。包括参考像素的确定的电学特性和光学特性的与第一应力条件对应的特性相关曲线被存储。还基于其它参考像素上的预定的应力条件的施加存储对于其它预定的应力条件的特性相关曲线。确定有源像素的应力条件,并且通过将有源像素的应力条件与预定的应力条件的曲线关联来确定补偿电压。 | ||
申请公布号 | CN102741910B | 申请公布日期 | 2016.01.13 |
申请号 | CN201180008188.9 | 申请日期 | 2011.02.04 |
申请人 | 伊格尼斯创新公司 | 发明人 | G·查吉;J·加弗瑞;A·内森 |
分类号 | G09G3/3225(2016.01)I | 主分类号 | G09G3/3225(2016.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 欧阳帆 |
主权项 | 一种确定用于显示图像的像素阵列中的基于有机发光器件OLED的像素的老化补偿的特性相关曲线的方法,包括:向参考像素施加第一应力条件,所述参考像素不是所述显示图像的像素阵列的一部分;存储所述参考像素的基准电学特性和基准光学特性;周期性地测量基于参考电流的输出电压,以便确定所述参考像素的电学特性;周期性地测量所述参考像素的亮度以便确定所述参考像素的光学特性;基于所述参考像素的确定的电学特性和光学特性以及基准光学特性和电学特性确定与第一应力条件对应的特性相关曲线;存储与第一应力条件对应的特性相关曲线;向第二参考像素施加第二应力条件,所述第二参考像素具有OLED;存储第二参考像素的基准电学特性和基准光学特性;周期性地测量基于参考电流的输出电压,以便确定第二参考像素的电学特性;周期性地测量参考像素的亮度以便确定第二参考像素的光学特性;基于第二参考像素的确定的电学特性和光学特性以及基准光学特性和电学特性确定与第二应力条件对应的第二特性相关曲线;以及存储与第二应力条件对应的第二特性相关曲线。 | ||
地址 | 加拿大安大略 |