发明名称 微流控表面增强拉曼测试芯片及其制备方法
摘要 本发明公开了一种微流控表面增强拉曼测试芯片及其制备方法。该制备方法包括以下步骤:步骤S1、提供一具有上表面、下表面以及在上表面和下表面之间延伸的厚度方向的模板,该模板具有多个间隔开的通孔,每一通孔沿模板的厚度方向穿透模板;步骤S2、采用具有SERS活性的金属材料在模板的多个通孔的每一通孔内形成金属柱,从而获得一金属柱群;步骤S3、去除模板的材料,在任意两个相邻的金属柱之间形成供待测流体通过的微流道;步骤S4、对金属柱群进行封装,从而获得微流控表面增强拉曼测试芯片。本发明通过在测试芯片的检测区设置具有三维增益柱面的金属柱群,大大增加了检测区与待测分子的接触面积,大幅提升了增益系数和检测灵敏度。
申请公布号 CN105092555A 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201410190985.9 申请日期 2014.05.07
申请人 中国科学院物理研究所 发明人 尹彦;叶通
分类号 G01N21/65(2006.01)I;B01L3/00(2006.01)I 主分类号 G01N21/65(2006.01)I
代理机构 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 代理人 范晓斌;薛峰
主权项 一种微流控表面增强拉曼测试芯片的制备方法,包括以下步骤:步骤S1、提供一模板(10),所述模板(10)具有上表面、下表面以及在所述上表面和所述下表面之间延伸的厚度方向,所述模板(10)具有多个间隔开的通孔,每一所述通孔沿所述模板(10)的厚度方向穿透所述模板(10);步骤S2、采用具有SERS活性的金属材料在所述模板(10)的多个所述通孔的每一所述通孔内形成金属柱(12),从而获得一金属柱群;步骤S3、去除所述模板(10)的材料,以暴露出所述金属柱群,从而在任意两个相邻的所述金属柱(12)之间形成供待测流体通过的微流道(13);以及步骤S4、对具有所述微流道(13)的所述金属柱群进行封装,使得所述金属柱群作为所述微流控表面增强拉曼测试芯片的检测区,从而获得所述微流控表面增强拉曼测试芯片。
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