发明名称 自动修复逻辑坏道的磁片压力测试系统及方法;Pressure Test System and Method for Automatically Repairing the Logic Bad Track
摘要 本发明提供一种自动修复逻辑坏道的磁片压力测试系统。该系统包括:修复模组,用于当无法读取HDD中当前测试区域的第一资料时,对所述测试区域写入自定义资料进行修复; 保存模组,用于当修复成功后,读取HDD中所述当前测试区域的第一资料并将其复制后保存于存放装置;处理模组,用于写入测试资料于所述当前测试区域并读取测试资料;判断模组,用于判断读写操作是否成功且比对写入的数据与读取的数据是否一致;所述的处理模组,还用于当读写操作成功且比对写入的测试资料与读取的资料一致时,将所述第一资料重新写入所述当前测试区域。; a store module that read the first data in the test area and copy it to the storage device when repair the test area successfully; a process module that write some test data to the test area and read it; a determine module that determine if the read and write operations are success and compare the read data with the written data; the process module that write the first data to the test area again when the read and write operations are success and the read data is the same as the written data.
申请公布号 TW201541243 申请公布日期 2015.11.01
申请号 TW103109098 申请日期 2014.03.13
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD. 发明人 宋明敬 SONG, MING-JING
分类号 G06F11/273(2006.01) 主分类号 G06F11/273(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 新北市土城区自由街2号 TW