用于使用吸收来成像的系统和方法

摘要

介质的衰减和其他光学属性被利用以测量传感器和目标表面之间的介质的厚度。此处公开的是各种介质，硬件的布置，以及被用来捕获这些厚度测量并获得各种成像背景中的目标表面的三维图像的处理技术。这包括用于为内部/凹表面以及外部/凸表面成像，以及为耳道、人齿列等等成像的这些技术的特定适配的一般技术。

主权项

一种用于使用吸收来成像的系统，包括：具有表面的可膨胀膜，该表面包括发出荧光的荧光物质；光源，位于所述可膨胀膜内并且能够以荧光物质的在一波长范围内的激发波长对所述可膨胀膜的表面进行照明；介质供给部件，该介质供给部件在该波长范围内吸收的第一波长的光比在该波长范围内吸收的第二波长的光多，该供给部件耦合到所述可膨胀膜以允许将所述介质选择性地递送到可膨胀膜中；位于所述可膨胀膜之内的传感器，用以测量当被所述光源照明时在表面上的位置处的光学返回路径方向上的第一波长的强度和第二波长的强度；以及处理器，被编程为基于所述第一波长的强度和第二波长的强度的比值来确定介质在该方向上的厚度，并且该处理器还被编程为基于多个厚度测量构造表面的感兴趣区域的三维图像。