用于集成电路的空闲阶段预测

摘要

本发明公开了一种用于集成电路中的空闲阶段预测的方法和装置。在一个实施方案中，一种集成电路(IC)包括功能单元，其被配置成在活动状态的间隔与空闲状态的间隔之间循环。所述IC还包括预测单元，其被配置成记录针对所述空闲状态的多个间隔的空闲状态持续时间的历史。基于所述空闲状态持续时间的历史，所述预测单元被配置成生成针对所述空闲状态的下一个间隔的持续时间的预测。在多个用途中，功率管理单元可以使用所述预测来确定是否要将所述功能单元置于低功率(例如，休眠)状态。

主权项

一种方法，其包括：使集成电路(IC)的功能单元在活动状态的间隔与空闲状态的间隔之间循环；记录针对所述空闲状态的多个间隔的空闲状态持续时间的历史；以及基于所述空闲状态持续时间的历史来预测所述空闲状态的下一个间隔的持续时间。