发明名称 |
一种高压开关机械特性测试系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种高压开关机械特性测试系统,包括PC机、ARM+uclinux、FPGA、信号调理及采样电路和采样数据存储器,PC机以太网接口连接ARM+uclinux,FPGA挂在ARM+uclinux的BANK上,FPGA分别连接信号调理及采样电路、高压开关控制电路,FPGA还用过光电耦合器连接到采样数据存储器,高压开关控制器电路还连接高压开关,高压开关还连接电流传感器、位移传感器和信号调理采样电路,电流传感器和位移传感器还连接信号调理采样电路。本实用新型以ARM+FPGA为下位机系统,PC机为上位机系统设计了新的高压开关机械特性测试仪,充分发挥了ARM处理器处理能力强、接口丰富、系统软件开发便捷的优点及FPGA在多路数据并行采样上精度高的优势,增强了高压开关机械特性检测的精度和实时性。 |
申请公布号 |
CN204177564U |
申请公布日期 |
2015.02.25 |
申请号 |
CN201420623326.5 |
申请日期 |
2014.10.27 |
申请人 |
武汉国试电气设备有限公司 |
发明人 |
叶一波 |
分类号 |
G01M13/00(2006.01)I;G01R31/327(2006.01)I |
主分类号 |
G01M13/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种高压开关机械特性测试系统,包括PC机、ARM+uclinux、FPGA、信号调理及采样电路和采样数据存储器,其特征在于,所述PC机以太网接口连接ARM+uclinux,所述FPGA挂在ARM+uclinux的BANK上,FPGA分别连接信号调理及采样电路、高压开关控制电路,FPGA还用过光电耦合器连接到采样数据存储器,高压开关控制器电路还连接高压开关,高压开关还连接电流传感器、位移传感器和信号调理采样电路,电流传感器和位移传感器还连接信号调理采样电路。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市东湖开发区关东科技工业园7-3(七号地块) |